材料科学技術振興財団(MST)第15回山崎貞一賞をWiley書籍の著者が受賞

一般財団法人材料科学技術振興財団 (MST) は、このほど平成27年度 第15回 山崎貞一賞の受賞者として4分野9名を発表しました。同賞は、「材料」、「半導体及び半導体装置」、「計測評価」、「バイオサイエンス・バイオテクノロジー」の4分野で論文の発表、特許の取得、方法・技術の開発等を通じて、実用化につながる優れた創造的業績をあげている人物に贈られます。

• 最新の受賞者

今回の受賞者のうち、「環境中性子線による半導体ソフトエラー計測評価技術の開発と機器障害自動抑止の実現」を受賞題目として半導体及び半導体装置分野で受賞した伊部 英史氏（株式会社日立製作所・シニア所員）は、昨年12月にWileyから下記の書籍を出版しています。

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Terrestrial Radiation Effects in ULSI Devices and Electronic Systems
　by Eishi H. Ibe
　296 pages / December 2014
　Hardcover: ISBN 978-1-118-47929-2 US$ 165.00
　（上の書名または表紙画像をクリックすると、詳しい内容をご覧いただけます。また”Read an Excerpt”からChapter 1を試読できます）

　本書の構成　
1 Introduction
2 Terrestrial Radiation Fields
3 Fundamentals of Radiation Effects
4 Fundamentals of Electronic Devices and Systems
5 Irradiation Test Methods for Single Event Effects
6 Integrated Device Level Simulation Techniques
7 Prediction, Detection and Classification Techniques of Faults, Errors and Failures
8 Mitigation Techniques of Failures in Electronic Components and Systems
9 Summary